Vergabe BB-200 mm Semi-Automatic RF Probe System for On-Wafer Measurements up to 250 GHz-CXSTYYDYTWLEVST4
Data and Resources
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Hinweis auf Bekanntmachungsorte.pdfPDF
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CSX 32 - Aufforderung zur Abgabe eines Angebots EU.pdfPDF
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service discription - Semi-Automatic RF Probe...PDF
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03_4 Eigenerklaerung_ILO.pdfPDF
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5.3 Vereinbarung Mindestanforderungen BbgVergG.pdfPDF
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CSX 51 - Angebotsdeckblatt.pdfPDF
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Eigenerklaerung EU-Sanktionen VO 2022_576 -...DOCX
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Vergabeunterlagen_CXSTYYDYTWLEVST4.zipZIP
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04_01 EKB-2024.pdfPDF
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price list - Semi-Automatic RF Probe System.xlsxXLSX
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IHP_Lieferanten-, Kundenauskunft.docxDOCX
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04_02 Bewerbungsbedingungen_Land BB_vol06 .pdfPDF
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04_03 ZVB-Bbg_vol08 .pdfPDF
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4.5 Erklaerung Frauenfoerderverordnung (Stand...PDF
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Evaluation matrix - Semi-Automatic RF Probe System.pdfPDF
Additional Info
| Field | Value |
|---|---|
| Last Updated | June 27, 2026, 04:29 (UTC) |
| Created | June 27, 2026, 04:28 (UTC) |
| notice_type | VgV Ausschreibung |
| publication_date | 2026-06-25 |
| publisher | IHP GmbH - Leibniz-Institut für innovative Mikroelektronik |
| short_title | 200 mm Semi-Automatic RF Probe System for On-Wafer Measurements up to 250 GHz |
| submission_deadline | 24.07.2026 |