TED 738340-2026 Atomic Force Microscope (AFM)

Rasterkraftmikroskop für die Untersuchung von Oberflächen von mikro- und nanostrukturierten Quantenbauteilen mit hoher Auflösung und auf Wafern mit einem Durchmesser von bis zu 200mm. Anwendungsfelder reichen von der Untersuchung von photonischen Schaltkreisen bis hin zu supraleitenden Quantenschaltkreisen.

Publikationsnummer: 738340-2026 Veröffentlicht: 2026-10-26 Auftraggeber: Walther-Meissner-Institut der Bayerischen Akademie der Wissenschaften, Garching

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Feld	Wert
Zuletzt aktualisiert	Oktober 26, 2026, 06:49 (UTC)
Erstellt	Oktober 26, 2026, 06:49 (UTC)
buyer_city	Garching
buyer_country	DEU
buyer_name	Walther-Meissner-Institut der Bayerischen Akademie der Wissenschaften
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publication_date	2026-10-26
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