TED 528678-2026 Semi Automatic Prober for characterization of 200 mm Wafers

Beschaffung eines halbautomatischen Wafer-Probersystems einschließlich eines integrierten Charakterisierungssystems zur elektrischen Charakterisierung von 200-mm-Wafern. Der Leistungsumfang umfasst die Lieferung, Installation, Inbetriebnahme sowie die Einweisung des Bedienpersonals.

Publikationsnummer: 528678-2026 Veröffentlicht: 2026-07-30 Auftraggeber: IHP GmbH - Lebniz-Institut für innovative Mikroelektronik, Frankfurt (Oder) Angebotsfrist: 2026-08-31+02:00 12:00:00+02:00

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Zuletzt aktualisiert August 16, 2026, 18:18 (UTC)
Erstellt August 16, 2026, 18:18 (UTC)
buyer_city Frankfurt (Oder)
buyer_country DEU
buyer_name IHP GmbH - Lebniz-Institut für innovative Mikroelektronik
contract_type goods
cpv_codes 38000000
cpv_main 38000000
deadline 2026-08-31+02:00 12:00:00+02:00
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language DEU
notice_title Semi Automatic Prober for characterization of 200 mm Wafers
notice_version 1
nuts DEA22
procedure_id 71e6be1d-498f-49a3-93f8-1109be04403e
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publication_date 2026-07-30
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