Vergabe BB-Semi-Automatic Wafer Prober System for Characterization of 200-mm Wafers-CXSTYYDDYRW8N6CR
Daten und Ressourcen
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Zusätzliche Informationen
| Feld | Wert |
|---|---|
| Zuletzt aktualisiert | Oktober 23, 2026, 18:55 (UTC) |
| Erstellt | September 30, 2026, 21:50 (UTC) |
| auftragsgegenstand | 38540000-2 Maschinen und Geräte zum Prüfen und Messen |
| cpv_main | 38540000-2 |
| notice_type | VgV Ausschreibung |
| publication_date | 2026-09-29 |
| publisher | IHP GmbH - Lebniz-Institut für innovative Mikroelektronik |
| question_deadline | 21.10.2026 23:59 Ortszeit |
| short_title | Semi-Automatic Wafer Prober System for Characterization of 200-mm Wafers |
| submission_deadline | 29.10.2026 |