evergabe-Online 848779 – Inspektionsmikroskop
Daten und Ressourcen
Dieser Datensatz hat keine Daten
Zusätzliche Informationen
| Feld | Wert |
|---|---|
| Zuletzt aktualisiert | März 31, 2026, 05:34 (UTC) |
| Erstellt | März 29, 2026, 21:18 (UTC) |
| bindefrist | 13.05.2026 |
| ca_email | vergabestelle@uni-jena.de |
| ca_name | Friedrich-Schiller-Universität Jena |
| cpv_main | 38000000-5 |
| eingang_angebote | 15.04.2026 10:00 |
| erfuellungsort | Friedrich-Schiller-Universität Jena, Institut Angewandte Physik, Albert-Einstein-Str. 6, 07745 Jena |
| evergabe_id | 848779 |
| leistung_ascii | Die Friedrich-Schiller-Universität Jena möchte zur Inspektion von Lack- und Wellenleiterstrukturen auf photonischen integrierten Schaltkreisen (PIC) in Lithiumniobat auf Siliziumsubstraten ein (1) Lichtmikroskop beschaffen. Das Mikroskop soll für die schnelle Inspektion zwischen Prozessschritten durch wechselnde Nutzer optimiert sein und die Messung charakteristischer Längen sowie Prüfung typischer Fehlerbilder (Partikel, Lack- und Schichtfehler) ermöglichen. Die technischen Leistungsparameter gem. Anlage 2 sind mindestens zu erfüllen. |
| notice_number | 848779 |
| reference_number | N-ÖA/2026-69 |