745000 RES-0001 selec-w TEN-0001 tenders 5 CON-0001 LOT-0001 TEN-0001 745000 no TPA-0001 LOT-0001 DE-2025-91941 CON-0001 2026-08-24+02:00 ORG-0001 1727-26 TEN-0001 TPA-0001 ORG-0101 29 ORG-0001 Technische Universität Bergakademie Freiberg Akademiestraße 6 Freiberg 09599 DED43 DEU DE141136178 Zentrale Beschaffung 03731-393330 ausschreibung@zuv.tu-freiberg.de ORG-0002 1. Vergabekammer des Freistaates Sachsen bei der Landesdirektion Sachsen Postfach 10 13 64 Leipzig 04013 DED51 DEU keine Angabe +49341 977 - 3800 vergabekammer@lds.sachsen.de large ORG-0101 Bruker AXS SE Östliche Rheinbrückestraße 49 Karlsruhe 76187 DE122 DEU DE812037551 ORG-0102Datenservice Öffentlicher Einkauf (in Verantwortung des Beschaffungsamts des BMI)Bonn53119DEA22DEU0204:994-DOEVD-83+49228996100noreply.esender_hub@bescha.bund.de 00684601-2026192/20262026-10-05+02:00 2.3 eforms-sdk-1.13 eforms-sdk-1.13 01a0fb61-c754-49a4-beea-1c0be3118a18 019e72b9-4adc-4665-8c94-dfb076032e87 2026-10-02+02:00 09:16:39+02:00 01 2026-10-02+02:00 32014L0024 can-standard DEU body-pl-ra education ORG-0001 ted-esenORG-0102 vgv CrossBorderLaw RL 2014/24/EU open false 030/2026L Röntgen-Computertomographiesystem (µCT) Röntgen-Computertomographiesystem (µCT) supplies 38000000 Freiberg 09599 DED43 DEU LOT-0001 false eu-funds per-exa 30 price Gewichtung Preis 30% Gewichtung Preis 30% per-exa 70 quality Gewichtung 70% Qualität Ausschlusskriterien: 2.1.1 Das Gerät muss als Vollschutzgerät gemäß den Anforderungen der Strahlenschutzverordnung (StrlSchV) ausgeführt sein 2.1.2 Das System muss hochauflösende CT-Messungen mit nachweisbarer struktureller Auflösung im Submikrometerbereich ermöglichen. 2.1.3 Das System muss zur artefaktarmen Abbildung stark heterogener Mehrphasenmaterialien geeignet sein. Der Nachweis ist anhand eines Referenzdatensatzes mit segmentierbaren Phasen stark unterschiedlicher Röntgenabsorption (z.B. Batteriematerialien) zu erbringen 2.1.4 Das System muss die Durchführung von in-situ Experimenten (mechanisch, thermisch oder fluidisch) unterstützen. 2.1.5 Das System muss sowohl Sub-µm als auch Messungen größerer Proben (≥ 230 mm Ø, ≥ 350 mm Höhe, ≥ 20 kg) ermöglichen. 2.1.6 Der Zugriff auf Rohdaten (mindestens TIFF oder RAW) und Metadaten (z.B. TXT oder XML) ist bereitzustellen Bewertungskriterien: 2.2.7 Sicherer Zugang zum Probenraum / einfacher und effizienter Probenwechsel 2.2.8 Beschleunigungsspannung im Bereich von 30–160 kV Zusatzpunkt: Systeme mit erweitertem Spannungsbereich 2.2.9 Maximale Leistung der Röntgenquelle 15 W Zusatzpunkt: Systeme mit hoher Leistung bei gleichzeitig geringer Brennfleckvergrößerung 2.2.10 Hohe zeitliche Stabilität der Strahlcharakteristik (insbesondere Brennfleckgröße und -position) ist sicherzustellen; über typische Messdauern von 1–14 h darf keine signifikante Drift auftreten Zusatzpunkt: Systeme mit hoher Stabilität auch bei hochauflösenden Langzeitmessungen oder hoher Quellleistung 2.2.11 Geeignete Betriebsmodi zur Abdeckung unterschiedlicher Messanforderungen (z.B. hochauflösend und hohe Leistung für dichte Materialien) sind bereitzustellen. 2.2.12 Die erreichbare strukturelle Auflösung ist in Abhängigkeit von Brennfleckgröße, Messgeometrie und Detektorkonfiguration anzugeben und durch Spezifikationen oder Referenzmessungen zu belegen; die Voxelgröße allein ist nicht ausreichend Zusatzpunkt: Systeme mit nachweisbarer struktureller Auflösung kleiner 1 µm bei gleichzeitig großem Sichtfeld oder größeren Proben 2.2.13 Detektorrauschen sowie erreichbares Signal-Rausch-Verhältnis (SNR) sind anzugeben Zusatzpunkt: Systeme mit geringem Rauschniveau und hohem SNR auch bei großen Sichtfeldern oder hochauflösenden Messungen 2.2.14 Detektorsystem muss sowohl hochauflösende Detailmessungen als auch Messungen mit großem Sichtfeld (FOV) ermöglichen Zusatzpunkt: Systeme mit geringem Umrüstaufwand und flexibler Nutzung unterschiedlicher FOV-Bereiche 2.2.15 Angabe des maximalen FOV Zusatzpunkt: Systeme mit großem FOV bei gleichzeitig hoher struktureller Auflösung 2.2.16 Möglichkeit zur Anpassung der Detektorparameter (z.B. Binning, Auflösung, Belichtungszeit) ist bereitzustellen 2.2.17 Das Detektorsystem soll für quantitative Analysen eine hohe Grauwertstabilität und ein reproduzierbares lineares Antwortverhalten aufweisen Zusatzpunkt: Systeme mit reproduzierbarer quantitativer Grauwertanalyse auch bei unterschiedlichen Messgeometrien, Probenmaterialien oder Messzeiten 2.2.18 Angabe des Dynamikbereichs des Detektors (z.B. Bit-Tiefe oder vergleichbare Kenngröße) Zusatzpunkt: Systeme mit hohem Dynamikbereich und geringer Sättigungsneigung bei Materialien mit stark variierender Absorption 2.2.19 Die Unterstützung erweiterter Scanverfahren (z.B. Helical Scan, ROI- oder Stitching-Verfahren) ist anzugeben Zusatzpunkt: Systeme mit flexibler Kombination unterschiedlicher Scanverfahren für große oder komplexe Probengeometrien 2.2.20 Die Bildqualität ist anhand geeigneter Referenzmessungen oder Beispiel-Datensätze darzustellen Zusatzpunkt: Systeme mit aussagekräftigen Referenzdatensätzen für unterschiedliche Probenmaterialien und Messgeometrien 2.2.21 Das System muss Maßnahmen zur Minimierung typischer Artefakte (z.B. Beam Hardening, Ringartefakte, Drift) unterstützen. Die Wirksamkeit der Artefaktkorrektur ist anhand geeigneter Beispielmessungen darzustellen Zusatzpunkt: Systeme mit geringer Artefaktausprägung auch bei großen oder stark absorbierenden Proben 2.2.22 Die Reproduzierbarkeit der Bildqualität bei wiederholten Messungen ist anhand geeigneter Referenzmessungen darzustellen Zusatzpunkt: Systeme mit hoher Reproduzierbarkeit bei unterschiedlichen Messbedingungen und Probengeometrien. 2.2.23 Software- oder hardwareseitige Korrekturverfahren (z.B. Beam Hardening Korrektur, Ringartefaktkorrektur) müssen verfügbar sein 2.2.24 Übergangsbereiche zwischen Material und Luft müssen mit geringer Artefaktbildung dargestellt werden (z.B. minimierte Phasenartefakte); Zusatzpunkt: Systeme mit besonders geringer Artefaktausprägung auch bei hochauflösenden oder kontrastarmen Messungen 2.2.25 Unterstützung moderner Rekonstruktionsverfahren (z.B. iterative Rekonstruktion oder vergleichbare Verfahren) ist anzugeben 2.2.26 Ein- und Ausbau von in-situ Komponenten müssen mit geringem Umrüstaufwand möglich sein Zusatzpunkt: Systeme mit schneller und werkzeugarmer Integration sowie vorbereiteten Mediendurchführungen und standardisierten Anschlüssen. 2.2.27 360° Scans müssen auch unter Betriebsbedingungen (in-situ) möglich sein Zusatzpunkt: Systeme mit stabiler Durchführung von in-situ Messungen auch bei komplexen, schweren oder extern versorgten Probenaufbauten 2.2.28 Unterstützung zeitaufgelöster Messungen (z.B. 4D-CT oder vergleichbar) ist bereitzustellen Zusatzpunkt: Systeme mit erweiterten Funktionen zur Auswertung (z.B. Volumenkorrelation) 2.2.29 Das System muss einen unbeaufsichtigten Betrieb über längere Zeiträume (z.B. Mess- und Rekonstruktionswarteschlangen) unterstützen Zusatzpunkt: Systeme mit automatisierter Steuerung und Überwachung umfangreicher Mess- und Rekonstruktionsabläufe 2.2.30 Eine automatisierte Rekonstruktion von Datensätzen (z.B. Batch-Verarbeitung) muss möglich sein Zusatzpunkt: Systeme mit effizienter Verarbeitung großer Datensätze (z.B. über Nachtbetrieb) Kriterium 2.231-2.2.54 sind in der Anlage 5 nachzulesen ORG-0001 ORG-0001 "Die Vergabekammer leitet ein Nachprüfungsverfahren nur auf Antrag ein (§160 Abs. 1 GWB). Der Nachprüfantrag ist gemäß §160 Abs. 3 GWB unzulässig, soweit: 1. der Antragsteller den geltend gemachten Verstoß gegen Vergabevorschriften vor Einreichen des Nachprüfungsantrags erkannt und gegenüber dem Auftraggeber nicht innerhalb einer Frist von zehn Kalendertagen gerügt hat; der Ablauf der Frist nach § 134 Absatz 2 bleibt unberührt, 2. Verstöße gegen Vergabevorschriften, die aufgrund der Bekanntmachung erkennbar sind, nicht spätestens bis zum Ablauf der in der Bekanntmachung benannten Frist zur Bewerbung oder zur Angebotsabgabe gegenüber dem Auftraggeber gerügt werden, 3. Verstöße gegen Vergabevorschriften, die erst in den Vergabeunterlagen erkennbar sind, nicht spätestens bis zum Ablauf der Frist zur Bewerbung oder zur Angebotsabgabe gegenüber dem Auftraggeber gerügt werden, 4. mehr als 15 Kalendertage nach Eingang der Mitteilung des Auftraggebers, einer Rüge nicht abhelfen zu wollen, vergangen sind." ORG-0002 false false none none LOT-0001 Fertigung, Lieferung, Montage und Inbetriebnahme eines Röntgen-Computertomographiesystem (µCT) zur hochauflösenden, zerstörungsfreien 3D-Analyse von Partikelsystemen und Mehrphasenmaterialien im Submikrometerbereich mit erweiterten Messmöglichkeiten für größere Proben und in-situ Experimente Fertigung, Lieferung, Montage und Inbetriebnahme eines Röntgen-Computertomographiesystem (µCT) zur hochauflösenden, zerstörungsfreien 3D-Analyse von Partikelsystemen und Mehrphasenmaterialien im Submikrometerbereich mit erweiterten Messmöglichkeiten für größere Proben und in-situ Experimente supplies #Besonders auch geeignet für:other-sme# none 747000 38000000 Freiberg 09599 DED43 DEU 2026-07-15+02:00 2026-12-18+01:00 2000-01-01+01:00